使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。高性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。

　　参数查看，快速清晰。

　　大胆发现从未如此简单。 4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外，嵌入式测量专业知识可提供测试指南并让您对结果充满信心。

　特点

　　内置英语，中文，日语和韩语版本的测量视频

　　使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试

　　自动实时参数提取、数据绘图、算数函数

　　测量、 切换、 重复。

　　4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

特点

　　无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

　　用户可配置低电流功能

　　个性化输出通道名称

　　查看实时测试状态

　　稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定Making Stable Low Current Measurements on High Capacitance Test Connections Using the 4201-SMU and 4211-SMUPlay Video使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块，您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley 可确保您获得准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。

　　使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通过高测试连接电容进行稳定的低电流测量

特点

　　不必将仪器送回工厂即可增加 SMU

　　进行 飞安测量

　　多达 9 个 SMU 通道

　　针对长电缆或大卡盘进行了优化

　　带分析探测器和低温控制器的集成解决方案。

　　4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。

特点

　　“点击”测试定序

　　“手动”探测器模式测试探测器功能

　　假探测器模式无需移除命令即可实现调试

　　降低成本并保护您的投资