日本日置C测试仪 3506-10概述

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

■ BIN功能

C测量根据测量值多分类为14个等级※1，易于进行分拣等。 ※1 3506,3505多为13个等级。3504-40无BIN功能。

■ 比较器功能

第1参数(C)、第2参数(D)可各自设置上下限值。判定结果可进行蜂鸣、LED显示以及外部输出，设定值始终显示。

■ 存储功能

测量数据可保存在主机。可通过GP-IB，RS-232C读出。　3506-10 ………………………………..1,000个　3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000个

■ 只需选择的简单操作&LED显示

只需从面板标记项目中进行选择，操作简单。设定好的测量条件会点亮，能够一目了然把握设定条件。

■ 触发同步输出功能

施加触发后输出测量信号，仅在测量时将信号施加到被测物上。因为是在接触被测物时流过大电流，因此能够减少接点的损耗。

■可存储99※2组测量条件

多可保存99组测量条件，可迅速对应在重复测量较多的产线上切换被测物的情况。可利用EXT I/O读出任意测量条件。 ※2 3506-10多为70组。

■标配接触检查功能

可检测出测量过程中的接触错误。可另外管理有过接触错误的样品，对提高成品率做出贡献。

日本日置C测试仪 3506-10特点

★ 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
★ 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
★ 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
★ 根据BIN的测定区分容量