日置阻抗分析仪的详细介绍：

　　1.1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查

　　2.LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量

　　3.基本精度±0.08%的高精度测量

　　4.适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量，分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

日置阻抗分析仪主要用途:

　　电子元件厂商的电子元件的出货检查

　　电子元件厂商的电子元件的验收和特性评估

　　日置阻抗分析仪支持各类生产线的测量模式；智能实现正确测量·分析的各种功能和大小：适用于研究开发用途的测量功能，半机架大小和舒适的操作提高产量，接触检查功能(DCR测量和Hi Z筛选)。日置阻抗分析仪能在阻抗范围和宽频率范围进行测量，它利用物体具有不同的导电作用，在物体表面加一固定的低电平电流时，通过阻抗计算出物体的各种器件、设备参数和性能优劣。 日置阻抗分析仪在测量中实现高速及高稳定性兼顾，缩短间歇，提高产能。